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Promotionsverteidigung Igal Kropp

Nasschemische Ätzung von Siliziumnitridschichten mit organischen Komplexbildnern

Es wird eine Alternative zum Ätzen von Siliciumnitrid (SiNx) auf Silizium-Wafern vorgestellt. Herkömmliche Verfahren zum Ätzen von SiNx auf Silizium-Wafern arbeiten mit Flusssäure oder Phosphorsäure. Zu diesen Chemikalien werden alternative organische Komplexbildner zum Ätzen von SiNx vorgestellt, welche im Gegensatz zu den herkömmlichen Substanzen weniger giftig und umweltschädlich sind. Bei den organischen Komplexbildnern handelt es sich um die Stoffgruppen der Hydroxycarbonsäuren und Aminosäuren. Für diese Substanzen wurden die ersten wichtigen Parameter für einen Einsatz in der Halbleiterindustrie untersucht. Dabei handelt es sich um Einflüsse durch die Herstellungsprozesse des SiNx selbst, des pH-Wertes, der chemischen Struktur des organischen Komplexbildners und die Konzentrations- und Temperaturabhängigkeit. Es werden für die Reaktion auch die ersten Reaktionsmechanismen postuliert.

Start
Ende
Veranstaltungsort
INBM, G.-Zeuner-Str. 3, R.309
Sonstiges
Prof. Dr. Yvonne Joseph
Gustav-Zeuner-Str. 3, Zimmer 314
yvonne.joseph [at] esm.tu-freiberg.de