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Bild eines Transmissionselektronenmikroskops
TEM Jeol JEM-2200FS
with Cs-corrector
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Bild eines Elektronenstrahlmikroanalysators
ESMA Jeol JXA-8230
with 5 spectrometer crystals
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Bild eines Rasterelektronenmikroskops
SEM Jeol JSM 7800 F
analytical scanning electron microscope