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Hochtemperatur Röntgendiffraktometer

Einsatzgebiete

Das Hochtemperatur-Röntgendiffraktometer wird eingesetzt für die:  

  • Bestimmung des kristallinen Phasenbestands und morphologischer Parameter (Dicke, Dichte, Rauigkeit) von Beschichtungen und Schichtsystemen, 
  • Analyse der kristallinen und amorphen Bestandteile in HT-Materialien anhand der Methode der Paarverteilungsfunktion,
  • In-situ-Untersuchung von Umwandlungs- und Ausheilungsvorgängen der kristallinen Struktur in Abhängigkeit der Temperatur. 

Die Bestimmung der Paarverteilungsfunktion (Pair Distribution Function PDF) und bietet einen Zugang zur Strukturanalyse in amorphen oder schwer gestörten kristallinen Materialien. Beispiele sind fehlgeordnete Nanopartikel, Flüssigkeiten und Gläser.

Gerätespezifikationen

  • Gerätetyp: Bruker D8 Advance A25X1
  • Röntgenstrahler: Molybdän-Röntgenröhre 3 kW mit fokussierendem Göbelspiegel
  • Probenaufnahmen: Drehprobenhalter für Reflexion, Kapillarhalter für Transmission
  • Ofenkammer: Anton Paar HTK 1200N für Messungen in Reflexion und Transmission
  • Detektor: Dectris Eiger 2R mit 1030 × 514 Pixeln 

Kontakt

Prof. Dr. Dirk C. Meyer
Verbindungshalbleiter und Festkörperspektroskopie
Institut für Experimentelle Physik


Geräteverantwortlicher: Dr. Hartmut Stöcker
hartmut [dot] stoecker [at] physik [dot] tu-freiberg [dot] de (hartmut[dot]stoecker[at]physik[dot]tu-freiberg[dot]de)