Hochtemperatur Röntgendiffraktometer
Einsatzgebiete
Das Hochtemperatur-Röntgendiffraktometer wird eingesetzt für die:
- Bestimmung des kristallinen Phasenbestands und morphologischer Parameter (Dicke, Dichte, Rauigkeit) von Beschichtungen und Schichtsystemen,
- Analyse der kristallinen und amorphen Bestandteile in HT-Materialien anhand der Methode der Paarverteilungsfunktion,
- In-situ-Untersuchung von Umwandlungs- und Ausheilungsvorgängen der kristallinen Struktur in Abhängigkeit der Temperatur.
Die Bestimmung der Paarverteilungsfunktion (Pair Distribution Function PDF) und bietet einen Zugang zur Strukturanalyse in amorphen oder schwer gestörten kristallinen Materialien. Beispiele sind fehlgeordnete Nanopartikel, Flüssigkeiten und Gläser.
Bild
Hartmut Stöcker
Gerätespezifikationen
- Gerätetyp: Bruker D8 Advance A25X1
- Röntgenstrahler: Molybdän-Röntgenröhre 3 kW mit fokussierendem Göbelspiegel
- Probenaufnahmen: Drehprobenhalter für Reflexion, Kapillarhalter für Transmission
- Ofenkammer: Anton Paar HTK 1200N für Messungen in Reflexion und Transmission
- Detektor: Dectris Eiger 2R mit 1030 × 514 Pixeln
Kontakt
Prof. Dr. Dirk C. Meyer
Verbindungshalbleiter und Festkörperspektroskopie
Institut für Experimentelle Physik
Geräteverantwortlicher: Dr. Hartmut Stöcker
hartmut [dot] stoecker [at] physik [dot] tu-freiberg [dot] de (hartmut[dot]stoecker[at]physik[dot]tu-freiberg[dot]de)