Skip to main content

Hochtemperatur-AFM/STM

Einsatzgebiete

Das Hochtemperatur-AFM/STM dient der Untersuchung von Morphologie-verändernden Prozessen an Werkstoffoberflächen auf meso- und mikroskopischer Ebene. Es können unter kontrollierter Atmosphäre sowie prozessnahen Bedingungen (Normaldruck, hohe Temperaturen) in-situ-Beobachtungen von z.B. Sinterungsprozessen, Segregationsprozessen, Korngrenzenwanderungen, Zersetzung von Oberflächenbelegungen (Präkursoren) oder die selektive Verdampfung von Komponenten im Falle von Mischphasen untersucht werden und die zugrundeliegenden Prozess-Kinetiken bestimmt werden.

Gerätespezifikationen

  • SPM-Modi (contact mode, tapping mode, EFM, KPFM, MFM, STS)
  • AFM- und STM-Messungen bis maximal 850 °C
  • kontrollierte Gasatmosphäre (Normaldruck) im Probenraum über MFC steuerbar: 
    Ar, N2, O2, H2, CO2, CO, NOx
  • Scanbereich des SPM-Scanners 100x100x10 µm
  • Probengrößen bis max. 20 mm 
  • räumliche Auflösung unter Hochtemperaturbedingungen und Normaldruck: <100nm
  • verwendbare SPM-Modi: contact mode und tapping mode AFM für morphologische und topografische Untersuchungen mit Möglichkeit zur simultanen Messung der elektrischen Leitfähigkeit und Impedanz-Spektroskopie; Lateral Force Messungen; EFM bzw. KPFM zur Ermittlung der lokalen Oberflächenpotentiale; MFM zur Messung magnetischer Eigenschaften mit lokaler Auflösung; STM Modus und STS

Kontakt

Prof. Florian Mertens
Institut für Physikalische Chemie

Geräteverantwortlicher: Dr. Andreas Lißner
andreas [dot] lissner [at] chemie [dot] tu-freiberg [dot] de