Die Photoelektronenspektroskopie (PES) spielt sowohl in der Festkörperphysik wie auch in Werkstoffforschung eine zentrale Rolle bei der Untersuchung besetzter elektronischer Zustände sowie der elementspezifischen Untersuchung verschiedenster Materialien. Zusätzlich zu klassischen XPS (ESCA) Untersuchungen von Proben, sind hier auch Untersuchung der Valenzbandstruktur mittels Ultraviolett-Photoelektronen-Spektroskopie sowie winkel-aufgelöster Messungen der Photoelektronen (ARPES) möglich und stellen eine signifikante Erweiterung des spektroskopischen Portfolios der TUBAF dar. Zusätzlich können auch temperaturinduzierte Änderungen der Proben sowohl direkt bei der Messung (bis 800 °C) sowie durch Heizen zwischen den Messungen bis 2000 °C untersucht werden.  

• UHV System für ARPES und XPS bestehend aus Analyse-, Preparations und Load Lock Kammer (Druck <4x10^-10 mbar)
• motorisierter 5 Achsen Helium Kryostat UHV Manipulator in Analysekammer
   (T_min < 15 K, T_max = 1100 K)
• UPS / ARPES: He I / He II; XPS: Al K_a (150 W) beide monochromatisiert
• ASTRAIOS 190 hemispherischer Energie-Analysator mit 2D-CMOS Detektor
• Ar Ionen Quelle zum Reinigen von Proben (bis 3 kV)  
• aktiv gepumpter Vakuum Koffer mit 20 Plätzen inkl. Batterie für 24 h (p<9x10^-9 mbar)
• Flood Gun (Energiebereich 1 eV – 500 eV)
• ErLEED
• Hochtemperatur Heizstation (T_max = 2000 °C)