Das Hochtemperatur-AFM/STM dient der Untersuchung von Morphologie-verändernden Prozessen an Werkstoffoberflächen auf meso- und mikroskopischer Ebene. Es können unter kontrollierter Atmosphäre sowie prozessnahen Bedingungen (Normaldruck, hohe Temperaturen) in-situ-Beobachtungen von z.B. Sinterungsprozessen, Segregationsprozessen, Korngrenzenwanderungen, Zersetzung von Oberflächenbelegungen (Präkursoren) oder die selektive Verdampfung von Komponenten im Falle von Mischphasen untersucht werden und die zugrundeliegenden Prozess-Kinetiken bestimmt werden.

• SPM-Modi (contact mode, tapping mode, EFM, KPFM, MFM, STS)
• AFM- und STM-Messungen bis maximal 850 °C
• kontrollierte Gasatmosphäre (Normaldruck) im Probenraum über MFC steuerbar: 
  Ar, N₂, O₂, H₂, CO₂, CO, NO_x
• Scanbereich des SPM-Scanners 100x100x10 µm
• Probengrößen bis max. 20 mm 
• räumliche Auflösung unter Hochtemperaturbedingungen und Normaldruck: <100nm
• verwendbare SPM-Modi: contact mode und tapping mode AFM für morphologische und topografische Untersuchungen mit Möglichkeit zur simultanen Messung der elektrischen Leitfähigkeit und Impedanz-Spektroskopie; Lateral Force Messungen; EFM bzw. KPFM zur Ermittlung der lokalen Oberflächenpotentiale; MFM zur Messung magnetischer Eigenschaften mit lokaler Auflösung; STM Modus und STS