Hersteller: XRD Eigenmann GmbH (Seifert Analytical X-Ray)

technische Spezifikationen:

• θ–θ–Röntgendiffraktometer
• Winkelmessbereich: 2θ = 10° ... 165°
• Anodenmaterial: Cu
• 2 Primärstrahlengänge zum Wechsel zwischen parafokussierender Geometrie und Parallelstrahlgeometrie
• energiediskriminierender Punktdetektor (Ketek AXAS-M) mit ~130 eV Energieauflösung (geeignet für Röntgenfluoreszenzmessungen)
• xyz-Probentisch zur Aufnahme praktisch aller Probengeometrien

typische Anwendungen:

• schnelle, routinemäßige quantitative Phasenanalyse
• Bestimmung von Gitterparametern
• Bestimmung von Mikrostruktur- und Realstrukturmerkmalen über Analyse der (anisotropen) Linienverbreiterung