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C. Schimpf
Steckbrief
Hersteller: Bruker AXS GmbH
technische Spezifikationen:
- Röntgendiffraktometer in Bragg-Brentano-Geometrie (θ–θ)
- Winkelmessbereich: 2θ = 10° ... 160°
- Anodenmaterial: Cu (andere Anodenmaterialien sind möglich)
- verschiedene Probenaufnahmen:
- Hochtemperaturkammer MTC-Hightemp+ (25°C ... 1800°C) mit Ta- oder Pt/Rh-Heizband
- Tieftemperaturkammer MTC-LowTemp (-120°C ... 400°C) mit Cu-Kühlblock und AlCr-Heizband
- inerte Probenumgebung möglich (Ar, N2, Vakuum bis 7∙10-5 mbar)
- Temperatursteuerung und -kontrolle über Thermoelemente
- geeignet für Pulverproben (Korundtiegel) oder flache Kompaktproben (direkt auf Heizband)
- Kontrolle der Probenposition über Abschattung des Primärstrahls
- ortsempfindlicher Halbleiterdetektor LynxEye XE (191 Kanäle, Öffnung: 2θ~2.7°) mit 680 eV Energieauflösung
- Messgeschwindigkeit mit sinnvollem Signal-Rausch-Verhältnis: 0.25s ... 0.5s je Winkelschritt
typische Anwendung:
- Untersuchungen von Phasenumwandlungen bei hohen und tiefen Temperaturen
- Bestimmung von Gitterparametern und thermischer Ausdehnung
- Verfolgen chemischer Reaktionen
- Beobachtung von Mikrostrukturveränderungen bei hohen Temperaturen