Hersteller: JEOL Ltd.

Gerätedetails:

• hochauflösendes Transmissionselektronenmikroskop mit STEM-Modus
• Beschleunigungsspannung: 80 keV und 200 keV
• EDX-Detektor
• Ω-Filter für energiegefilterte Abbildung und Beugung sowie Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS)
• Cs-Korrektor zur Reduzierung des sphärischen Abberation des Kondensors
• BF/ADF- und HAADF-Detektoren
• Elektronenbeugung mit parallelem (SAED) und konvergentem (CBED) Strahl
• hochsensitive 2K×2K CCD-Kamera zur Bilderfassung

typische Anwendungen:

• Mikrostrukturabbildung mit Vergrößerung bis zur atomaren Auflösung (Auflösungsgrenze 0,19 nm)
• lokale Beugungsanalyse (Phasenanalyse, Orientierungsbeziehungen)
• lokale, qualitative und quantitative chemische Analyse

Kontaktdaten

• Dr. M. Motylenko
  motylenk [at] ww [dot] tu-freiberg [dot] de (motylenk[at]ww[dot]tu-freiberg[dot]de)
  Tel.: +49 3731 39 3121
• Bitte beachten Sie unsere TEM-Nutzerordnung