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EBSD phase map - Stahlpartikel
C. Quitzke

Technische Spezifikationen

Hersteller:
  • ZEISS
Technische Daten:
  • EDS, WDS, EBSD, STEM 
  • Auflösung: 0,8 nm
  • Beschleunigungsspannung: 300 V bis 30 kV in 10 V-Schritten
  • Vergrößerung: 15x bis 1.000.000x
  • Strahlstrom: 1 pA bis 20 nA, elektronisches Optibeam, Gemini
  • Detektoren:
    • Je 2 x Sekundärelektronen-Detektor, Rückstreuelektronendetektor, In-Lens
    • SDD-Detektor zur EDS, 10 mm2 aktive Fläche, Energieauflösung < 129 eV, bei Mn-Kα-Strahlung, Nachweis ab Bor (OZ 5)
    • WDS-System TEXS, 5 Kristalle, Röntgenkapillarsystem
    • EBSD-System OIM XM4, DigiViewIV-CCD-Kamera
typische Anwendungen:
  • Analyse von Einschlüssen, Ausscheidungen und Gefügen (Bruchflächen), Phasen und Subphasen, Korngrenzen und Subkorngrenzen hinsichtlich der Struktur­merkmale und der chemischen Zusammensetzung

Ansprechpartner

Dr.-Ing. Armin Franke
Ledebur-Bau
Leipziger Straße 34
Raum 212
+49 3731 39-2413
Armin [dot] Franke [at] iest [dot] tu-freiberg [dot] de