Steckbrief
Hersteller: ZEISS
technische Spezifikationen:
Auflichtmikroskop ZEISS Axio Observer Z1m |
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Technische Daten: - Vergrößerung: 25 - 1000fach
- motorisch verfahrbarer Kreuztisch
- motorischer Z-Fokus
- Bildkontrast:
- Hellfeld und Dunkelfeld
- DIC (Differential-Interferenz-Kontrast)
- Bildanalysesoftware: ZenCore 3.6
- Bestimmung nichtmetallischer Einschlüsse in Stählen (Oxide, Sulfide, Nitride) nach EN 10247, DIN 50602, ASTM E45a, ISO 4967, JIS G0555, GB/T 10561 und SEP 1571
- Charakterisierung von Pulverpartikeln
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typische Anwendungen: - Lichtmikroskopische Gefügebeurteilung von metallischen Materialien
- Aufnahme großer Probenbereiche mit Hilfe von Kachelbildern
- automatische 2D-Bildanalyse
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Ansprechpartner:
Dr.-Ing. Marco Wendler
Leipziger Straße 34 (Ledebur-Bau), Raum 207
+49 3731 39-3605
Marco [dot] Wendler [at] iest [dot] tu-freiberg [dot] de (E-Mail)