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Auflichtmikroskop Axio Observer Z1m
M. Wendler

Technische Spezifikationen

Hersteller:
  • ZEISS
Technische Daten:
  • Vergrößerung: 25 - 1000fach 
  • motorisch verfahrbarer Kreuztisch
  • motorischer Z-Fokus
  • Bildkontrast:
    • Hellfeld und Dunkelfeld 
    • DIC (Differential-Interferenz-Kontrast)         
  • Bildanalysesoftware: ZenCore 3.6
    • Bestimmung nichtmetallischer Einschlüsse in Stählen (Oxide, Sulfide, Nitride) nach EN 10247, DIN 50602, ASTM E45a, ISO 4967, JIS G0555, GB/T 10561 und SEP 1571
    • Charakterisierung von Pulverpartikeln
typische Anwendungen:
  • Lichtmikroskopische Gefügebeurteilung von metallischen Materialien
  • Aufnahme großer Probenbereiche mit Hilfe von Kachelbildern
  • automatische 2D-Bildanalyse

Ansprechpartner

Dr.-Ing. Marco Wendler
Ledebur-Bau
Leipziger Straße 34
Raum 207
+49 3731 39-3605
Marco [dot] Wendler [at] iest [dot] tu-freiberg [dot] de