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Auflichtmikroskop ZEISS Axio Scope.A1_2
M. Wendler

Technische Spezifikationen

Hersteller:
  • ZEISS
Technische Daten:
  • Vergrößerung: 25 - 1000fach 
  • Bildkontrast:
    • Hellfeld und Dunkelfeld 
    • DIC (Differential-Interferenz-Kontrast)         
    • Polarisation
  • Bildanalysesoftware: Olympus Stream Motion
    • Korngrößenbestimmung nach ISO 643 (Richtreihenvergleich, Linienschnitt, Planimetrie)
    • Porosität
    • Phasenanalyse
    • Messen / Zählen 
    • Partikelverteilung
typische Anwendungen:
  • Lichtmikroskopische Gefügebeurteilung von metallischen Materialien

Ansprechpartner

Dr.-Ing. Marco Wendler
Ledebur-Bau
Leipziger Straße 34
Raum 207
+49 3731 39-3605
Marco [dot] Wendler [at] iest [dot] tu-freiberg [dot] de