Hersteller: Bruker AXS GmbH

technische Spezifikationen:

• horizontales Röntgendiffraktometer mit Parallelstrahl (θ–2θ)
• Anodenmaterial: Cu (Punktfokus)
• Winkelmessbereich: 2θ = 10° ... 130°
• primärseitige Polykapillaroptik erzeugt Parallelstrahl mit Ø 2 mm
• ¼-Kreis-Eulerwiege mit xyz-Tisch zur Aufnahme von Proben unterschiedlichster Geometrien (max. 5 kg)
• sekundärseitiger Parallelplattenkollimator (Akzeptanz: 0.23°)
• Li-gedrifteter Si-Halbleiter-Szintillationszähler (Punktdetektor)

typische Anwendungen:

• ortsaufgelöste Röntgenbeugung für qualitative/quantitative Phasenanalyse
• Bestimmung der Eigenspannung I. Art nach der sin²ψ-sin(2ψ)-Methode (vollständiger Spannungstensor)
• Aufnahme von Polfiguren für die Analyse bevorzugter Kristallorientierungen (Textur)