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C. Schimpf
Steckbrief
Hersteller:
technische Spezifikationen:
- Elektronenstrahlmikrosonde für die wellenlängen- und energiedispersive Analyse
- LaB6- oder W-Kathode als Elektronenquelle
- Optisches Mikroskop mit Farb-TV-Kamera für die Auswahl des gewünschten Probenbereiches
- Sekundärelektronen- und Rückstreuelektronendetektor für die Abbildung und Festlegung des Messbereiched
- 5 Kristallspektrometer mit verschiedenen Kristallen
- EDX-System
- Beschleunigungsspannung von 5 keV bis 30 keV
- kontinuierliche Strahlstromeinstellung zwischen 1 pA und 10 µA
- LN2-Kühlfalle für ein verbessertes Vakuum und eine reduzierte Kontaminationsrate
- Umfangreicher Satz an metallischen und mineralischen Standards
typische Anwendungen:
- lokale, quantitative Elementanalyse für Elemente ab Ordnungszahl 5
- Bestimmung der Elementverteilung entlang von Linien oder Flächen