Das Promotionsprojekt von Sebastian widmet sich einem zentralen Thema der modernen Halbleiterindustrie: der Weiterentwicklung der Ultraschallrastermikroskopie (Scanning Acoustic Microscopy – SAM) zur Fehleranalyse und Qualitätssicherung. Dieses Vorhaben adressiert die Herausforderungen, die durch die fortschreitende Miniaturisierung, komplexere Strukturen und neue Materialien in der Mikroelektronik entstehen. 

Das Projekt zielt darauf ab, transiente Simulationsalgorithmen zu entwickeln, die die Ausbreitung von Schallwellen in komplexen Halbleiterbauteilen präzise vorhersagen. Durch die Nutzung halbanalytischer Methoden sollen bisherige Einschränkungen in der Rechenzeit überwunden werden, während gleichzeitig die physikalischen Eigenschaften hochfrequenter Schallwellen im Bereich von 50 MHz bis 1 GHz berücksichtigt werden. Diese Algorithmen ermöglichen eine genauere Analyse der Interaktion von Schallwellen mit Fehlstellen und unterstützen die Entwicklung neuer Messverfahren, die auf den Anforderungen der Industrie basieren. Dies soll sowohl die Fehlererkennung als auch die Nachhaltigkeit in der Produktion mikroelektronischer Systeme verbessern.

Die Forschung wird in enger Zusammenarbeit mit Partnern aus der Industrie und im Kontext internationaler Projekte durchgeführt, um praxisorientierte Ergebnisse zu gewährleisten. Zudem wird das Promotionsvorhaben durch ein Stipendium des Europäischen Sozialfonds (ESF) unterstützt, das die Forschungsarbeit maßgeblich fördert und die Bedeutung der wissenschaftlichen Weiterqualifizierung unterstreicht.

Weiterführende Informationen zum ESF-Promotionsstipendium