AG-Leiter: Dr.-Ing. Gert Schmidt

• Rasterelektronenmikroskopie mit fokussiertem Ionenstrahl – FIB-REM
• Rasterelektronenmikroskopie mit energiedispersivem Elektronenstrahlmikroanalysator – REM/EDX
• Rasterelektronenmikroskopie mit Rückstreuelektronenbeugung – REM/EBSD
• vollautomatische Partikelanalyse mit Materialidentifikation – PREM/EDX (ASPEX)
• Röntgen-Diffraktometrie
• Mikrofokus-Computertomographie µ-CT
• Digitalmikroskopie
• Laserscanning-Mikroskopie
• Erhitzungsmikroskopie
• Kohlenstoff- und Schwefelanalyse
• Funkenspektrometrie für Fe und Al
• Thermische Analysen
  • Dynamische Differenzkalorimetrie – DSC
  • Differenz-Thermoanalyse – DTA
  • Thermogravimetrie – TG
  • Dilatometrie