Die Vortragsreihe "Materialforschung mit Freie-Elektronen-Röntgenlasern" findet vom 22.09. bis 27.09.2024 statt.

Inhalt

Darstellung von konventionellen und ultrahochauflösenden spektroskopischen Methoden und Methoden zur Bestimmung von Struktureigenschaften:

• Inelastic and Resonant Inelastic X-ray Scattering (IXS and RIXS)
• X-ray Emission Spectroscopy (XES)
• X-ray Absorption Spectroscopy (XAS)
• Photoelectron Spectroscopy (XPS and ARPES)
• X-ray Microscopy
• Coherent X-ray Diffraction (CDI)
• Photon Correlation Spectroscopy (PCS)
• X-ray Holography

Die praktische Anwendung der oben genannten Methoden wird bei Führungen durch den weltweit ersten Freie-Elektronen-Röntgenlaser FLASH bei DESY in Hamburg sowie durch die Experimentierhalle des European XFEL in Schenefeld veranschaulicht.

Organisation

Anmeldung bis 21.07.2024 über OPAL