• MPI TS3000SE halbautomatischer Wafer-Prober (bis 300 mm, -60°C bis 200°C)
• Cascade S300 halbautomatischer Wafer-Prober (bis 300 mm, Raumtemperatur bis 200°C)
• Suess PM8 manueller Wafer-Prober (bis 200 mm, Raumtemperatur)
• Lakeshore PS100 manueller Wafer-Prober für kryogene Messungen (80 K)
• flexibler Versuchsaufbau für DTLTS (deep level transient spectroscopy)
• Keithley 4200-SCS Halbleitercharakterisierungssysteme für IV-Messungen (1 A bis < pA), CV-Messungen (quasistatisch bis 10 MHz) sowie gepulste IV-Messungen
• Keithley 6430 Sub Femotoamp Remote Source Meter zur Messung kleinster Ströme (< fA)
• Keithley 707A Switch Matrix (7174A Low Current Matrix Card)
• Keysight B1500 Halbleitercharakterisierungssystem
• Keysight 4980A LCR-Meter (20 Hz bis 2 MHz) für Impedanz-Messungen
• Rohde & Schwarz Network Analyzer
• Zurich Instruments 5 MHz Impedanz-Analysator
• TPT HB05 manueller Drahtbonder (Ball- und Wedgebonden von Gold- und Aluminiumdünndraht)

Ansprechpartner: Dr. Alexander Schmid

• NKT Photonics SuperK Extreme EXR-15 Superkontinuum Lichtquelle (< 500 bis >2400 nm)
• NKT Photonics SuperK Varia variabler Bandpassfilter (450-850 nm)
• NKT Photonics SuperK Select variabler Mehrkanal-Filter (650-2000 nm)
• Kimmon HeCd-Laser (325 nm, 442 nm)
• CryLas Festkörper-Laser (213 nm)
• Energetiq EQ-99X lasergetriebene Plasmalichtquelle mit Hyperchromator (Mountain Photonics GmbH) (250 bis >500 nm)
• LTB MNL 106-LD Stickstofflaser, gepulst (337 nm)
• Kryostat (ca. 5 K bis 800 K)
• Acton SP2560 Triple-Grating Monochromator (Gitter mit 300-2400 gr/mm für UV-NIR)
• Princeton Instruments Blaze 100HRX mit Unichrome-Beschichtung (200-1100 nm)
• Princeton Instruments PI-MAX4 CCD-Kamera mit Bildverstärker (in Kooperation mit dem Helmholtz-Institut Freiberg für Ressourcentechnologie (HIF))
• Hamamatsu R3896 Photomultiplier (185-900 nm)
• Hamamatsu H10330C-75 Infrarot-Photomultiplier (950-1700 nm)
• Freiberg Instruments MDPmap, modifiziert mit UV-Anregung

Ansprechpartner: Dr. Jan Beyer

• WaveLabs LED-Sonnensimulator LS-2 (AM1.5g, 1 suns) mit Keithley 2651A für IV-Kennlinienmessung von Solarzellen (Raumtemperatur bis 120 °C), sowie der Dunkelkennlinie
• Sinton Instruments SunsVoc – Serienwiderstandsfreie Bestimmung der IV-Kennlinie von Solarzellen
• Sinton Instruments Lifetime Tester (WCT-120) für Bestimmung der Ladungsträgerlebensdauer
• Freiberg Instruments MDPmap (PL-Labor) für die ortsaufgelöste Bestimmung der Ladungsträgerlebensdauer
• Elektrolumineszenzmessplatz mit Canon EOS RP (variable Filterwahl für Tandemsolarzellen) und Keithley 2651A
• Automatisierter Degradationsplatz für lichtinduzierte Degradation (0 – 1 Sonne) bei erhöhten Temperaturen (Präzisionsheizplatte „Präzitherm“ Raumtemperatur bis 250 °C)
• Automatisierter Degradationsplatz für strominduzierte Degradation (0 – 10 A) bei erhöhten Temperaturen (Präzisionsheizplatte „Präzitherm“ Raumtemperatur bis 250 °C)
• Klimaprüfschrank ESPEC SH-642 für IEC-Normtests für PV-Module (Temperatur: -40 bis 160 °C, rel. Luftfeuchte: 30 % bis 95 %) – Kammervolumen: 64 l (40 cm x 40 cm)

Ansprechpartner: Dr. Matthias Müller, Prof. Dr. Roman Gumeniuk

• Nutzung von Geräten im Zentralen Reinraumlabor (ZRL) der TU Bergakademie Freiberg
• Einen Überblick über die Ausstattung des ZRL finden Sie hier: Zentrales Reinraumlabor

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