Das Rasterkraftmikroskop (atomic force microscope – AFM) ermöglicht das Aufnehmen der Topographie einer Oberfläche, die im Gegensatz zur Rasterelektronenmikroskopie nicht leitfähig sein muss und auch ohne Vakuum untersucht werden kann.

Im Allgemeinen wechselwirkt eine Spitze (Durchmesser meist ca. 10 nm), die an einem Cantilever befestigt ist, mit der Oberfläche. Der Abstand der Spitze zur Oberfläche wird über einen Piezoscanner eingestellt und mittels einer Feedbackschleife werden Messparameter aufgenommen.

Zusätzlich zur Topographie lassen sich mit entsprechenden Spitzen beziehungsweise Cantilevern auch elektrische Eigenschaften (z.B. Leitfähigkeit) und magnetische Eigenschaften untersuchen. Des Weiteren ist das Messen der Topographie auch in Flüssigkeiten möglich.

Allgemeine technische Daten:

• 100 x 100 µm² xy-Scanner
• 10 µm z-Scanner
• Messungen bis 800°C möglich
• kontrollierte Gasatmosphäre (Normaldruck) im Probenraum über MFC steuerbar: Ar, N₂, O₂, H₂, CO₂, CO, NO_x

Für das Gerät vorhandene Messmodi:

• contact mode und tapping mode AFM für morphologische und topografische Untersuchungen mit Möglichkeit zur simultanen Messung der elektrischen Leitfähigkeit und Impedanz-Spektroskopie
• Lateral Force Messungen
• EFM bzw. KPFM zur Ermittlung der lokalen Oberflächenpotentiale
• MFM zur Messung magnetischer Eigenschaften mit lokaler Auflösung
• STM Modus und STS

Weitere Informationen zum CAHT3 finden Sie hier.