Die umfangreiche Ausstattung erlaubt Photolumineszenz- und Photolumineszenz-Anregungsspektroskopie in einem weiten Spektralbereich, temperatur- und zeitabhängige Untersuchungen sowie auch das ortsaufgelöste Abrastern von planaren Proben wie z.B. Wafern mit einer Ortsauflösung bis in den Mikrometer-Bereich.

Für die Anregung stehen verschiedene Lasersysteme mit Wellenlängen vom Ultravioletten (213 nm) bis ins Infrarot (2000 nm) zur Verfügung. Eine Besonderheit dabei ist das Superkontinuums-Lasersystem der Firma NKT Photonics, welches kontinuierlich durchstimmbares Laserlicht von unterhalb 500 nm bis zu 2000 nm erzeugt. Weiterhin erlaubt eine monochromator-gekoppelte Plasmalichtquelle kontinuierlich durchstimmbare Anregungs-Wellenlängen bis hinunter zu 250 nm.

Ein Kryostat mit geschlossenem Helium-Kreislauf bietet weiterhin die Möglichkeit Experimente bei Temperaturen zwischen 5 K und bis zu 800 K durchzuführen. Die zur Verfügung stehenden Detektoren erlauben in einem weiten Wellenlängenbereich von 200 nm bis 1700 nm hochempfindliche zeitintegrierte und zeitaufgelöste Messungen. Gepulste Anregungslaser, Photomultiplier sowie eine CCD-Kamera mit Bildverstärker bieten die Möglichkeit, transiente Lumineszenzerscheinungen wie z.B. Ladungsträgerlebensdauern bis in den Nanosekunden-Bereich zu untersuchen.

Als Ergänzung dieser rein optischen Methoden steht eine Anlage zur ortsaufgelösten Bestimmung der mikrowellendetektierten Photoleitfähigkeit (MDP) und deren Transienten zur Verfügung. In Kombination mit elektrischen Charakterisierungssystemen (IV, CV, DLTS, MDP) lassen sich sowohl Volumenhalbleiter-Eigenschaften als auch optisch und elektrisch aktive Defekte im Kristall und an dessen Grenzflächen sehr umfassend charakterisieren.