Direkt zum Inhalt
Bild eines Transmissionselektronenmikroskops
C. Schimpf
TEM Jeol JEM-2200FS
mit Cs-Korrektor
Details
Bild eines Elektronenstrahlmikroanalysators
C. Schimpf
ESMA Jeol JXA-8230
mit 5 Spektrometerkristallen
Details
Bild eines Rasterelektronenmikroskops
C. Schimpf
SEM Jeol JSM 7800 F
analytisches Rasterelektronenmikroskop
Details