XL 30 ESEM FEG
ESEM mit EDX und Heiztisch bis 1.500 °C
Steckbrief
Gerätename | XL 30 ESEM FEG |
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Leistungsart | Rasterelektronenmikroskopie |
Institut | Keramik, Feuerfest und Verbundwerkstoffe |
Fachbereich | Optik, Elektronenoptik |
Hersteller | FEI/Philips |
Experte | Prof. Dr. Christos G. Aneziris |