XL 30 ESEM FEG
ESEM mit EDX und Heiztisch bis 1.500 °C
Steckbrief
| Gerätename | XL 30 ESEM FEG |
|---|---|
| Leistungsart | Rasterelektronenmikroskopie |
| Institut | Keramik, Feuerfest und Verbundwerkstoffe |
| Fachbereich | Optik, Elektronenoptik |
| Hersteller | FEI/Philips |
| Experte | Prof. Dr. Christos G. Aneziris |