Transmissionselektronenmikroskop JEM-2200FS

Das JEOL JEM-2200FS ist ein hochauflösendes analytisches Transmissionselektronenmikroskop, das mit einer Feldemmissionskathode, einem Korrektor für spherische Aberration (im Primärstrahl), mit einem EDX-Detektor und mit einem Omega-Filter für die EELS-Spektroskopie ausgestattet ist. Das Gerät wird vor allem für die Kristallstrukturanalysen an Grenzflächen und für die Bestimmung lokaler Konzentrationsprofile (EDX) und chemischer Bindungszustände (EELS) an der Subnanometer-Skala genutzt. Der Aberrationskorrektor im Primärstrahl ermöglicht die Messungen im HRSTEM-Modus. Dank dem Omega-Filter steht auch die energiegefilterte Abbildung zur Verfügung.

Steckbrief

GerätenameTransmissionselektronenmikroskop JEM-2200FS
LeistungsartMikroskopie
InstitutWerkstoffwissenschaft
FachbereichOptik, Elektronenoptik
HerstellerJEOL
Experte Prof. Dr. David Rafaja