Rasterelektronenmikroskop Tescan MIRA3 XMU
Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit EDS und EBDS, SE- und BSE- Detektor, Durchstrahlungs-Detektor, in situ Prüftische
Steckbrief
Gerätename | Rasterelektronenmikroskop Tescan MIRA3 XMU |
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Leistungsart | Mikroskopie |
Institut | Werkstofftechnik |
Fachbereich | Optik, Elektronenoptik |
Hersteller | Tescan |
Experte | Prof. Dr. Lutz Krüger |