Rasterelektronenmikroskop Tescan MIRA3 XMU

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit EDS und EBDS, SE- und BSE- Detektor, Durchstrahlungs-Detektor, in situ Prüftische

Steckbrief

GerätenameRasterelektronenmikroskop Tescan MIRA3 XMU
LeistungsartMikroskopie
InstitutWerkstofftechnik
FachbereichOptik, Elektronenoptik
HerstellerTescan
Experte Prof. Dr. Lutz Krüger