Rasterelektronenmikroskop JSM-7800F

Steckbrief

GerätenameRasterelektronenmikroskop JSM-7800F
LeistungsartMikroskopie
InstitutWerkstoffwissenschaft
FachbereichOptik, Elektronenoptik
HerstellerJEOL Ltd.
Experte Prof. Dr. Andreas Leineweber