ASPEX PSEM eXpress

Analytische Rasterelektronenmikroskopie mit automatischer Partikelanalyse (AFA – automatic feature analysis)

Steckbrief

GerätenameASPEX PSEM eXpress
LeistungsartRasterelektronenmikroskopie
InstitutKeramik, Feuerfest und Verbundwerkstoffe
FachbereichOptik, Elektronenoptik
HerstellerFEI Micro & Analytics GmbH
Experte Prof. Dr. Christos G. Aneziris