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3. Treffen der AG „In Situ-Prüfung im Rasterelektronenmikroskop“ in Hannover am Institut für Werkstoffkunde

Von: Jens Nellesen (RIF), Anja Weidner (TU BAF)

Am. 03./04. März 2015 fand unter Leitung von Frau Dr. Anja Weidner das 3. Treffen der AG „In situ-Prüfung im Rasterelektronenmikroskop“ im Unterwasser-Technikum des Institutes für Werkstoffkunde der Leibniz Universität Hannover statt. 40 Teilnehmer folgten der Einladung von Herrn Prof. Hans Jürgen Maier und Herrn Dr. Torsten Heidenblut nach Hannover, um sich über die neuesten, experimentellen Möglichkeiten und aktuelle Ergebnisse auf dem Gebiet der in situ-Forschung auszutauschen.

Herr Dr. T. Heidenblut, Leiter der Analysentechnik des Institutes für Werkstoffkunde. Foto: Martin Klein (ELLCIE GmbH).Am ersten Tag des Treffens stellten überwiegend Systemhersteller neue experimentelle in situ Techniken vor, die von der Röntgenmikroskopie (ZEISS) über Rasterkraftmikroskopie im REM (DME Nanotechnologie GmbH) bis hin zur Nanoindentierung im REM (EOS GmbH/Nanomechanics, Hysitron) reichten. Darüber hinaus wurde auch eine innovative Methode für EBSD-Messungen an großen Proben zur Anwendung im Grosskammer-REM in Form des Horizontal-EBSD (ELLCIE GmbH) vorgestellt.

Am zweiten Tag berichteten vor allem Forscher Herr Prof. H.J. Maier, Direktor des Institutes für Werkstoffkunde der Leibniz Universität Hannover.  Foto: Martin Klein (ELLCIE GmbH)aus den universitären Forschungseinrichtungen über ihre neuesten Erkenntnisse, aber auch über gegenwärtig zu lösende Problem- und Fragestellungen. Bei den intensiven Diskussionen konnten hierzu in vielen Fällen Lösungsvorschläge gefunden werden. Die Abendgestaltung in der „Bavaria-Alm“ ließ den Teilnehmer auch genügend Raum, um Kontakte zu knüpfen bzw. zu vertiefen und die fachliche Fragen in persönlichen Gesprächen tiefgreifender zu diskutieren.

Teilnehmer der 3. AG-Sitzung „In situ Prüfung im REM“ vor dem Unterwasser-Technikum des Institutes für Werkstoffkunde der Leibniz Universität Hannover. Foto: Martin Klein (ELLCIE GmbH).In den Vorträgen wurde deutlich, dass die Beantwortung der grundlegenden, wissenschaftlichen Fragestellungen vielfach nur durch die Kopplung mehrerer, experimenteller in situ-Methoden gelingt. Beispielsweise werden Ergebnisse der EBSD-Messung mit Resultaten der digitalen Korrelation (DIC) von REM-Aufnahmen oder mit Nanohärtemesswerten verknüpft. Darüber hinaus kann die Kombination von Experiment und FE-Simulation, d. h. die Nachbildung der auf Mikroskala ablaufenden Vorgänge, zum Verständnis der experimentellen Befunde beitragen.

Produkt-Präsentation der Firma Elektron-Optik-Service GmbH zum Thema „Nanoindentierung im Rasterelektronenmikroskop“. Herr S. Gosda (li.) und Herr V. Brandt (re.). Foto: Martin Klein (ELLCIE GmbH).Die Veranstaltung endete mit einem Rundgang durch die Labore und Experimentierhallen des Instituts für Werkstoffkunde der Leibniz Universität Hannover. Die Teilnehmer bekamen so noch einen tieferen Einblick in die Forschungsaktivitäten der Gruppe um Herrn Prof. Maier.

Besonders hervorzuheben sind an dieser Stelle noch einmal die Elektronen-Optik-Service GmbH, die durch eine Produktpräsentation zum Thema „Nanoindentation im REM“ die zweitägige Veranstaltung bereichert hat, sowie die ELLCIE GmbH, die für eine angenehme Atmosphäre in den Pausen gesorgt hatte.

Die AG „In situ-Prüfung im Rasterelektronenmikroskop“ kommt seit ihrer Gründung 2013 jährlich zu einer mehrtägigen Veranstaltung zusammen. Ziel ist der Austausch über neue Fragestellungen und Problemlösungen auf dem Gebiet der in situ Erforschung von mikroskopischen und makroskopischen Eigenschaften bis hin zu Bauteiluntersuchungen. Das nächste Treffen der AG wird im Frühjahr 2016 an der TU Kaiserlautern stattfinden.

10.03.2015

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