- simultanes optisches ICP-Emissionsspektrometer
- HF-Halbleitergenerator
- stehende Plasmafackel
- Dual View: axiale und radiale Plasmabetrachtung
- Echelle-Optik ohne bewegte Teile
Einsatz des Gerätes:
- Analyse von flüssigen Proben, Analyse von Metallspänen und -pulvern nach Überführung in eine Lösung
- Durchführung von Analysen an metallischen und nichtmetallischen Proben im Rahmen der metallurgischen Forschung des Instituts
- universeller Einsatz des Gerätes für Spezialprobleme auf Grund der einfachen Kalibrierung des Spektrometers mit synthetisch erstellten Lösungen
- Spurenelementmessungen in Wässern und Eluaten
